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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Lingua IngleseInglese
Libro Rigido
Libro Microelectronic Test Structures for CMOS Technology Manjul Bhushan
Codice Libristo: 01424507
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc., agosto 2011
Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the ba... Descrizione completa
? points 463 b
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Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.

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Ewa Kasp
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Informazioni sul libro

Titolo completo Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - Rigido
Data di pubblicazione 2011
Numero di pagine 373
EAN 9781441993762
ISBN 1441993762
Codice Libristo 01424507
Peso 776
Dimensioni 155 x 235 x 27
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