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Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Lingua IngleseInglese
Libro In brossura
Libro Advanced Test Methods for SRAMs Girard
Codice Libristo: 09062252
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc., settembre 2014
Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR... Descrizione completa
? points 265 b
108.09 €
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Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

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Informazioni sul libro

Titolo completo Advanced Test Methods for SRAMs
Autore Girard, Patrick, PH.
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - In brossura
Data di pubblicazione 2014
Numero di pagine 171
EAN 9781489983145
ISBN 9781489983145
Codice Libristo 09062252
Casa editrice Springer-Verlag New York Inc.
Peso 297
Dimensioni 155 x 235 x 235

Categorie

Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria elettronica e delle comunicazioni > Ingegneria elettronica > Elettronica: circuiti e componenti
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