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Advanced Transmission Electron Microscopy

Name: Advanced Transmission Electron Microscopy
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 13577506
Price: 136.49 EUR
Availability: InStock
Author: Jian Min Zuo
ISBN: 9781493966059

Imaging and Diffraction in Nanoscience

Jian Min Zuo

John C. H. Spence

Lingua

Inglese

Libro Rigido

Codice Libristo: 13577506

Casa editrice Springer-Verlag New York Inc., ottobre 2016

This volume expands and updates the coverage in the authors' classic 1992 book, "Electron Microdiffr... Descrizione completa

Codice Libristo: 13577506

334 b

136.49 €

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This volume expands and updates the coverage in the authors' classic 1992 book, "Electron Microdiffraction." As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction, or convergent beam electron diffraction, to electron nanodiffraction and the applications of electron diffraction from single crystals as well as general structure analysis of single crystals, powders, and nanostructures. Advanced Transmission Electron Microscopy provides a comprehensive treatment of theory and practice, and is written at a level suitable for advanced undergraduate students and graduate students and researchers in materials science, chemistry, and physics. Practical guides are provided for interpretation and simulation of electron diffraction patterns.

Attrice & Poliglotta

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Informazioni sul libro

Titolo completo Advanced Transmission Electron Microscopy

Autore Jian Min Zuo, John C. H. Spence

Lingua

Inglese

Rilegatura Libro - Rigido

Data di pubblicazione 2016

Numero di pagine 729

EAN 9781493966059

ISBN 1493966057

Codice Libristo 13577506

Casa editrice Springer-Verlag New York Inc.

Peso 1422

Dimensioni 155 x 235 x 40

Categorie

Matematica e Scienze > Chimica > Chimica analitica > Analisi dello spettro, spettrochimica, spettrometria di massa

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