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Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Lingua IngleseInglese
Libro Rigido
Libro Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications Greg Haugstad
Codice Libristo: 01388618
Casa editrice John Wiley & Sons Inc, ottobre 2012
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for... Descrizione completa
? points 411 b
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This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

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Informazioni sul libro

Titolo completo Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Autore Greg Haugstad
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - Rigido
Data di pubblicazione 2012
Numero di pagine 496
EAN 9780470638828
ISBN 0470638826
Codice Libristo 01388618
Casa editrice John Wiley & Sons Inc
Peso 850
Dimensioni 155 x 243 x 32
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