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Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 01388618
Price: 136.99 EUR
Availability: InStock
Author: Greg Haugstad
ISBN: 9780470638828

Greg Haugstad

Lingua

Inglese

Libro Rigido

Codice Libristo: 01388618

Casa editrice John Wiley & Sons Inc, ottobre 2012

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for... Descrizione completa

Codice Libristo: 01388618

335 b

136.99 €

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This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"