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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Lingua
Inglese
Inglese
Libro
Rigido
Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...
Descrizione completa
Codice Libristo: 01378961
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425 b
425 b
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Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.
Attrice
&
Poliglotta
EWA KASP
per
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Informazioni sul libro
Titolo completo
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Lingua
Inglese
Inglese
Rilegatura
Libro - Rigido
Data di pubblicazione
1998
Numero di pagine
430
EAN
9780306458965
ISBN
0306458969
Codice Libristo
01378961
Casa editrice
Springer Science+Business Media
Peso
1790
Dimensioni
156 x 234 x 25
Categorie
Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali
>
Ingegneria meccanica e dei materiali
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