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Charged Semiconductor Defects

Structure, Thermodynamics and Diffusion

Lingua IngleseInglese
Libro In brossura
Libro Charged Semiconductor Defects Edmund G. Seebauer
Codice Libristo: 01434720
Casa editrice Springer London Ltd, ottobre 2010
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties...
? points 394 b
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"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

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Informazioni sul libro

Titolo completo Charged Semiconductor Defects
Autore Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - In brossura
Data di pubblicazione 2010
Numero di pagine 298
EAN 9781849968201
ISBN 1849968209
Codice Libristo 01434720
Casa editrice Springer London Ltd
Peso 474
Dimensioni 155 x 235 x 17

Categorie

Matematica e Scienze > Chimica > Chimica analitica > Analisi dello spettro, spettrochimica, spettrometria di massa
Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria meccanica e dei materiali > Scienza dei materiali > Ingegneria termodinamica
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