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Defects in Microelectronic Materials and Devices

Lingua IngleseInglese
Libro Rigido
Libro Defects in Microelectronic Materials and Devices Daniel M. Fleetwood
Codice Libristo: 06681094
Casa editrice Taylor & Francis Inc, novembre 2008
Presents a survey of defects that occur in silicon-based metal-oxide semiconductor field-effect tran... Descrizione completa
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Informazioni sul libro

Titolo completo Defects in Microelectronic Materials and Devices
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - Rigido
Data di pubblicazione 2008
Numero di pagine 770
EAN 9781420043761
ISBN 9781420043761
Codice Libristo 06681094
Casa editrice Taylor & Francis Inc
Peso 1520
Dimensioni 185 x 260 x 42
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