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Electron Beam Lithography Process Optimization

An Experimental Design Study

Lingua IngleseInglese
Libro In brossura
Libro Electron Beam Lithography Process Optimization Rohan Handa
Codice Libristo: 01671828
Casa editrice Grin Verlag, dicembre 2011
Technical Report from the year 2011 in the subject Design (Industry, Graphics, Fashion), printed sin... Descrizione completa
? points 39 b
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Technical Report from the year 2011 in the subject Design (Industry, Graphics, Fashion), printed single-sided, grade: -, University of Southern California, language: English, abstract: Currently, nanowires have aroused intensive attention due to their interesting electric and optical properties as well as potentially wide application (For example, nanowires can be used as a promising structure for transistor channels). For compound semiconductor nanowires, Nanoscale Selective Area MOCVD (Metalorganic Chemical Vapor Deposition), or NS-SAG, is a very attractive growth technique for the fabrication of sophisticated nanowire structure, because by using this technique, diameter and location of wires are controllable, with no incorporation of unwanted metals. It is achieved by deposition of a nano-openingarray -patterned dielectric mask above the substrate. Since crystals cannot be formed on dielectric mask, nanowire growth only occurs at openings, with desired diameters and locations, as shown in Fig 1. Pattern of nano opening arrays is of vital importance since it governs the size, location and density of nanowires as wells as growth rate and behavior.

Attrice & Poliglotta
EWA KASP per
Riproduci video
Ewa Kasp
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Informazioni sul libro

Titolo completo Electron Beam Lithography Process Optimization
Lingua Inglese
Rilegatura Libro - In brossura
Data di pubblicazione 2011
Numero di pagine 36
EAN 9783656083160
ISBN 3656083169
Codice Libristo 01671828
Casa editrice Grin Verlag
Peso 54
Dimensioni 140 x 216 x 2
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