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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Name: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 01559880
Price: 254.29 EUR
Availability: InStock
Author: M. Schubert
ISBN: 9783540232490

Phonons, Plasmons, and Polaritons

M. Schubert

Lingua

Inglese

Libro Rigido

Codice Libristo: 01559880

Casa editrice Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, novembre 2004

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field w... Descrizione completa

Codice Libristo: 01559880

622 b

254.29 €

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The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects.A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.

Attrice & Poliglotta

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Informazioni sul libro

Titolo completo Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Autore M. Schubert

Lingua

Inglese

Rilegatura Libro - Rigido

Data di pubblicazione 2004

Numero di pagine 196

EAN 9783540232490

ISBN 3540232494

Codice Libristo 01559880

Casa editrice Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Peso 1060

Dimensioni 155 x 232 x 17

Categorie

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