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Libro Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 C. V. Thompson

Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265

Lingua

Inglese

Libro In brossura

Libro Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265 C. V. Thompson

Codice Libristo: 02439156

Casa editrice Cambridge University Press, giugno 2014

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Codice Libristo: 02439156

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Informazioni sul libro

Titolo completo Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265

Autore C. V. Thompson, J. R. Lloyd

Lingua

Inglese

Rilegatura Libro - In brossura

Data di pubblicazione 2014

Numero di pagine 344

EAN 9781107409682

ISBN 1107409683

Codice Libristo 02439156

Casa editrice Cambridge University Press

Peso 46

Dimensioni 152 x 229 x 18

Categorie

Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria meccanica e dei materiali > Scienza dei materiali

Tecnologia, Ingegneria, Agricoltura, processi industriali > Ingegneria elettronica e delle comunicazioni > Ingegneria elettronica

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