Contatto
Come acquistare
Consegna
Guida all'acquisto
CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Inglese
318 b
Fino a 30 giorni per il reso
I clienti hanno acquistato anche
/
In brossura
35.49
€
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
Informazioni sul libro
Inglese
Categorie
Regala questo libro oggi stesso
È facile
1 Aggiungi il libro al carrello e scegli la consegna come regalo 2 Ti invieremo subito il buono 3 Il libro arriverà all'indirizzo del destinatarioPotrebbe interessarti anche
/
In brossura
55.89
€
Ciao! Sono Libroamiko, il tuo consulente di libri.
Come posso aiutarti?